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文章来源 : 广东尊龙凯时人生就是博检测 宣布时间：2023-09-28 浏览数量：
高温试验是晶振在高温条件下事情一段时间后，评定高温对晶振的电气和机械性能的影响；或者长时间高温存储(不带电)后，评定晶振的质量稳定性，可参照标准GJB 360B.108 。
低温试验是长时间低温存储(不带电)后，评定晶振的质量稳定性，以及检测封装中足以对晶振爆发不良影响的剩余湿气，即通常的露点测试，可参照标准GJB 548B.1013.1 。
崎岖温贮存试验(High/Low Temperature Storage)袒露的故障来源于元器件外貌和内部的物理和化学变革，例如：密封问题，质料热胀冷缩问题，电性能爆发的变革等 。
高温存储试验：
事情温度: 125°C±5°C; 存储时间: 1000H±12H,不带电; 实验结束后24±2Hrs内进行电性能测试 。高温贮存试验可以使用“电热恒温箱”来进行试验，可参考标准MIL-STD-202 Method 108 。
低温存储试验：
事情温度: -55°C±5°C; 存储时间: 1000H±12H,不带电; 实验结束后24±4Hrs进行电性能测试 。低温贮存试验可以使用“低温试验机”，可参考标准JIS-C7021B-12 。
高温存储试验：
晶体谐振器频率降低3.5ppm左右(5max)，谐振阻抗增大3Ω左右±10%(5max); 晶体振荡器频率降低3.5ppm左右(5 max) 。
低温存储试验：
晶体谐振器频率降低2.5ppm左右(5max)，谐振阻抗增大3Ω左右±10%(5max); 晶体振荡器频率降低3.5ppm左右(5 max) 。
广东尊龙凯时人生就是博检测是专注于情况与可靠性测试的第三方检测机构，可为企业客户提供电子元器件情况与可靠性、安规和电性能、电磁兼容等试验项目，本实验室情况与可靠性试验设备齐全且数量多，设备性能稳定、数据可靠，可出具专业有效的检测报告 。
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